1、機(jī)械振動(dòng)的檢測(cè)
（1）機(jī)械振動(dòng)的來(lái)源。機(jī)械振動(dòng)的來(lái)源主要有以下幾個(gè)方面：大地固有的振動(dòng)；潔凈室運(yùn)行用設(shè)備的振動(dòng)；生產(chǎn)用設(shè)備的振動(dòng)；交通工具的振動(dòng)；建筑設(shè)備的振動(dòng)；水流引起的振動(dòng)；氣流引起的振動(dòng)等。
（2）振動(dòng)的危害。其影響精密儀器的準(zhǔn)確度和精密加工的精確度。
（3）振動(dòng)的測(cè)量。振動(dòng)主要有兩個(gè)技術(shù)參數(shù)：振動(dòng)頻率和振幅。采用減振措施以后，振動(dòng)量可以減小。用振動(dòng)儀可以直接測(cè)量振動(dòng)的強(qiáng)度。
2、靜電的檢測(cè)
（1）靜電檢測(cè)的需求。靜電有可能損壞電子設(shè)備、儀器儀表、甚至傷害人體，引發(fā)爆炸或燃燒。靜電對(duì)于集成電路的影響較大，所以電子行業(yè)對(duì)于靜電檢測(cè)的要求較高?！稘崈魪S房設(shè)計(jì)規(guī)范》和《電子工業(yè)潔凈廠房設(shè)計(jì)規(guī)范》兩個(gè)強(qiáng)制性的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)都是中國(guó)電子工程設(shè)計(jì)院負(fù)責(zé)起草的，基本上代表了電子行業(yè)的觀點(diǎn)。標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)于靜電有比較具體的要求。GB 50472-2008將靜電分為三個(gè)等級(jí)，相應(yīng)的靜電點(diǎn)位值為：一級(jí)≤100V；二級(jí)≤200V；三級(jí)≤1000V。
（2）靜電的主要檢測(cè)參數(shù)：包括電壓、電阻、電場(chǎng)、離子等。
（3）檢測(cè)方法。靜電檢測(cè)可參照GB 50591-2010和電子行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)《電子產(chǎn)品和制造防靜電系統(tǒng)測(cè)試方法》（SJ/T10694）進(jìn)行。
3、電磁場(chǎng)的檢測(cè)
（1）電磁場(chǎng)的來(lái)源。有交變電流就會(huì)有電磁場(chǎng)。高頻電流會(huì)產(chǎn)生電磁波。
（2）電磁場(chǎng)的危害。一般的電磁場(chǎng)會(huì)影響儀器儀表和自動(dòng)控制系統(tǒng)。強(qiáng)電磁場(chǎng)對(duì)人體有害。
（3）電磁場(chǎng)的測(cè)量。電磁場(chǎng)主要有兩個(gè)技術(shù)指標(biāo)，即頻率和強(qiáng)度，可以用場(chǎng)強(qiáng)儀進(jìn)行檢測(cè)。
4、射線的檢測(cè)
（1）常見(jiàn)的射線。常見(jiàn)的射線有電磁波、紫外線、X射線、γ射線、α射線、β射線等。
（2）射線的來(lái)源。交換變化的電磁場(chǎng)會(huì)產(chǎn)生電磁波，高頻的電磁波呈現(xiàn)射線特性，可以稱為電磁射線。紫外線多來(lái)源于紫外光源和太陽(yáng)光。X射線多來(lái)源于被高能電子激發(fā)的物質(zhì)。α射線、β射線多來(lái)源于具有放射性的重元素。
（3）檢測(cè)方法。射線一般可以用相應(yīng)的射線計(jì)數(shù)器檢測(cè)，射線計(jì)數(shù)器一般都是直讀儀器，使用比較方便。需要注意射線對(duì)人體危害較大，檢測(cè)人員需要注意自我保護(hù)。
5、有害氣體的檢測(cè)
（1）有害氣體的來(lái)源。潔凈室有害氣體的來(lái)源主要有：通風(fēng)帶進(jìn)的有害氣體；室內(nèi)裝飾材料散發(fā)的有害氣體；室內(nèi)設(shè)備散發(fā)的有害氣體；工作過(guò)程產(chǎn)生的有害氣體；人員散發(fā)的有害氣體。
（2）有害氣體的種類。不同的來(lái)源有不同的有害氣體，不同的對(duì)象有不同的有害氣體。有的氣體對(duì)人體有害，有的氣體對(duì)儀器設(shè)備有害，有的氣體對(duì)產(chǎn)品有害。
（3）有害氣體的檢測(cè)方法。
1）用直讀儀器直接讀出有害氣體的濃度。直讀儀器主要由兩部分組成：化學(xué)傳感器和電子放大顯示系統(tǒng)。此方法的特點(diǎn)是快遞、方便，缺點(diǎn)是往往精確度較低、儀器的使用壽命較短。
2）采樣后帶回實(shí)驗(yàn)室，使用光譜儀、色譜儀等分析確定有害氣體的濃度。此方法的特點(diǎn)是精確度較高、可靠性較強(qiáng)，缺點(diǎn)是測(cè)定程序較復(fù)雜、需要的時(shí)間較長(zhǎng)。